Automatic surface reconstruction using sem images based on a new computer vision approach

Stefan Scherer, Peter Werth, Axel Pinz, Andrea Tatschl, Otmar Kolednik

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelElectron microscopy and analysis 1999
Redakteure/-innenC. J. Kiely
ErscheinungsortBristol
Herausgeber (Verlag)Institute of Physics Publ.
Seiten107-110
Band161
ISBN (Print)0-7503-0577-0
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999
VeranstaltungInstitute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference - Sheffield, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 24 Aug 199927 Aug 1999

Publikationsreihe

NameInstitute of Physics conference series
Herausgeber (Verlag)Inst. of Physics Publ.

Konferenz

KonferenzInstitute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference
LandGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtSheffield
Zeitraum24/08/9927/08/99

Dieses zitieren

Scherer, S., Werth, P., Pinz, A., Tatschl, A., & Kolednik, O. (1999). Automatic surface reconstruction using sem images based on a new computer vision approach. in C. J. Kiely (Hrsg.), Electron microscopy and analysis 1999 (Band 161, S. 107-110). (Institute of Physics conference series). Bristol: Institute of Physics Publ..