Automatic Fault Diagnosis of Infrared Insulator Images Based on Image Instance Segmentation and Temperature Analysis

Bin Wang, Ming Dong, Ming Ren*, Zhanyu Wu, Chenxi Guo, Tianxin Zhuang, Oliver Pischler, Jiacheng Xie

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Automatic Fault Diagnosis of Infrared Insulator Images Based on Image Instance Segmentation and Temperature Analysis“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Ingenieurwesen & Materialwissenschaft

Physik & Astronomy