Automated X-Ray Elemental Analysis in Three Dimensions Using a Dual Beam-Focused Ion Beam system

Miroslava Schaffer, Julian Wagner, Hartmuth Schröttner, Mario Schmied

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)248-250
FachzeitschriftPractical metallography = Praktische Metallographie
Jahrgang44
Ausgabenummer5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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