Automated Analysis of Submicron Particles by Computer-Controlled Scanning Electron Microscopy

Peter Poelt, M. Schmied, Ingwald Obernberger, Thomas Brunner, Jonas Dahl

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)92-100
FachzeitschriftScanning
Ausgabenummer24
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2002

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