Originalsprache | englisch |
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Seiten (von - bis) | 92-100 |
Fachzeitschrift | Scanning |
Ausgabenummer | 24 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2002 |
Automated Analysis of Submicron Particles by Computer-Controlled Scanning Electron Microscopy
Peter Poelt, M. Schmied, Ingwald Obernberger, Thomas Brunner, Jonas Dahl
Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung