Atomic resolution scanning transmission electron microscopy analysis of Sr and Yb addition in Al-Si alloys

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 3 Sep 2013
VeranstaltungInternational Congress on Light Materials - Bremen, Deutschland
Dauer: 3 Sep 20135 Sep 2013

Konferenz

KonferenzInternational Congress on Light Materials
LandDeutschland
OrtBremen
Zeitraum3/09/135/09/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Albu, M., Li, J., Schumacher, P., Kothleitner, G., & Hofer, F. (2013). Atomic resolution scanning transmission electron microscopy analysis of Sr and Yb addition in Al-Si alloys. International Congress on Light Materials, Bremen, Deutschland.