Atomic resolution scanning transmission electron microscopy analysis of Sr and Yb addition in Al-Si alloys

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 3 Sep. 2013
VeranstaltungInternational Congress on Light Materials - Bremen, Deutschland
Dauer: 3 Sep. 20135 Sep. 2013

Konferenz

KonferenzInternational Congress on Light Materials
Land/GebietDeutschland
OrtBremen
Zeitraum3/09/135/09/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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