Applied Nanoanalysis by Electron Energy-Loss Spectrum Imaging Methods

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Originalsprache	englisch
Titel	Microscopy & Microanalysis, 13/Suppl.3
Herausgeber (Verlag)	.
Seiten	432-433
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2007
Veranstaltung	Microscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005: MC05 - Davos, Schweiz Dauer: 28 Aug. 2005 → 2 Sept. 2005

Konferenz	Microscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005
Land/Gebiet	Schweiz
Ort	Davos
Zeitraum	28/08/05 → 2/09/05

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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TY - GEN

T1 - Applied Nanoanalysis by Electron Energy-Loss Spectrum Imaging Methods

AU - Schaffer, Bernhard

AU - Grogger, Werner

AU - Kothleitner, Gerald

AU - Hofer, Ferdinand

PY - 2007

Y1 - 2007

M3 - Conference paper

SP - 432

EP - 433

BT - Microscopy & Microanalysis, 13/Suppl.3

PB - .

T2 - Microscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005

Y2 - 28 August 2005 through 2 September 2005

ER -