Applied Nanoanalysis by Electron Energy-Loss Spectrum Imaging Methods

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2 Sep 2007
VeranstaltungMicroscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005 - Davos, Schweiz
Dauer: 28 Aug 20052 Sep 2005

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005
LandSchweiz
OrtDavos
Zeitraum28/08/052/09/05

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Schaffer, B., Grogger, W., Kothleitner, G., & Hofer, F. (2007). Applied Nanoanalysis by Electron Energy-Loss Spectrum Imaging Methods. Microscopy Conference 2005 - 6.Dreiländertagung 2005, Davos, Schweiz.