Analytical (S)TEM Investigations of Magnetic Semiconductors and Heusler Alloys

Arno Meingast, Alberta Bonanni, R. Koch, Gerald Kothleitner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelMultinational Congress on Microscopy
Herausgeber (Verlag).
Seiten545-546
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Graz, Österreich
Dauer: 30 Aug 20094 Sep 2009

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum30/08/094/09/09

Fields of Expertise

  • Mobility & Production

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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