Analytical Scanning Transmission Electron Microscopy at Atomic Resolution

Ferdinand Hofer, Werner Grogger, Christian Gspan, Georg Haberfehlner, Mihaela Albu, Franz Schmidt, Daniel Knez

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - Apr. 2016
VeranstaltungElectron Microscopy and Analysis: EMAG 2016 - University of Durham, Durham, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 4 Apr. 20167 Apr. 2016

Konferenz

KonferenzElectron Microscopy and Analysis
KurztitelEMAG 2016
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtDurham
Zeitraum4/04/167/04/16

ASJC Scopus subject areas

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)

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  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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