Analytical Scanning Transmission Electron Microscopy at Atomic Resolution

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - Apr 2016
VeranstaltungElectron Microscopy and Analysis: EMAG 2016 - University of Durham, Durham, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 4 Apr 20167 Apr 2016

Konferenz

KonferenzElectron Microscopy and Analysis
KurztitelEMAG 2016
LandGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtDurham
Zeitraum4/04/167/04/16

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Hofer, F., Grogger, W., Gspan, C., Haberfehlner, G., Albu, M., Schmidt, F., & Knez, D. (2016). Analytical Scanning Transmission Electron Microscopy at Atomic Resolution. Electron Microscopy and Analysis, Durham, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.