Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron

Arno Meingast; Andrea Navarro Quezada; Thibaut Devillers; Andras Kovacs; Mihaela Albu; Stefanie Fladischer; Alberta Bonanni; Gerald Kothleitner

doi:doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002

Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron

Arno Meingast, Andrea Navarro Quezada, Thibaut Devillers, Andras Kovacs, Mihaela Albu, Stefanie Fladischer, Alberta Bonanni, Gerald Kothleitner

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	035002-9pp
Fachzeitschrift	Semiconductor Science and Technology
Jahrgang	30
DOIs	https://doi.org/doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

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Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002

1 Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung

1st International Conference on Functional Integrated Nano Systems
Mihaela Albu (Redner/in)
3 Dez. 2014
Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

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TY - JOUR

T1 - Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron

AU - Meingast, Arno

AU - Quezada, Andrea Navarro

AU - Devillers, Thibaut

AU - Kovacs, Andras

AU - Albu, Mihaela

AU - Fladischer, Stefanie

AU - Bonanni, Alberta

AU - Kothleitner, Gerald

PY - 2015

Y1 - 2015

U2 - doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002

DO - doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002

M3 - Article

VL - 30

SP - 35002

EP - 35009

JO - Semiconductor Science and Technology

JF - Semiconductor Science and Technology

SN - 0268-1242

ER -

Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron

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Aktivitäten

1st International Conference on Functional Integrated Nano Systems

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