| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 035002-9pp |
| Fachzeitschrift | Semiconductor science and technology |
| Jahrgang | 30 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2015 |
Fields of Expertise
- Advanced Materials Science
Treatment code (Nähere Zuordnung)
- Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
Dies zitieren
Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron. / Meingast, Arno; Quezada, Andrea Navarro; Devillers, Thibaut; Kovacs, Andras; Albu, Mihaela; Fladischer, Stefanie; Bonanni, Alberta; Kothleitner, Gerald.
in: Semiconductor science and technology, Jahrgang 30, 2015, S. 035002-9pp.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung
}
TY - JOUR
T1 - Analytical electron microscopy study on gallium nitride systems doped with manganese and iron
AU - Meingast, Arno
AU - Quezada, Andrea Navarro
AU - Devillers, Thibaut
AU - Kovacs, Andras
AU - Albu, Mihaela
AU - Fladischer, Stefanie
AU - Bonanni, Alberta
AU - Kothleitner, Gerald
PY - 2015
Y1 - 2015
U2 - doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002
DO - doi:10.1088/0268-1242/30/3/035002
M3 - Article
VL - 30
SP - 35002
EP - 35009
JO - Semiconductor science and technology
JF - Semiconductor science and technology
SN - 0268-1242
ER -