Analytical electron microscopy- an ultimate tool for exploring the enviromental living conditions 5300 years ago and nowadays

Maria Anna Pabst, Christoph Mitterbauer, Ilse Letofsky-Papst, Ferdinand Hofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelMicrobeam analysis 2000
Redakteure/-innenDavid B. Williams, Ryuichi Shimizu
ErscheinungsortBristol [u.a.]
Herausgeber (Verlag)IOP Publishing Ltd.
Seiten189-190
Band165
ISBN (Print)0-7503-0685-8
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000
VeranstaltungConference of the International Union of Microbeam Analysis Societies - Kailua-Kona; Hawaii, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 9 Jul 200013 Jul 2000

Publikationsreihe

NameInstitute of Physics conference series
Herausgeber (Verlag)IOP Publishing Ltd

Konferenz

KonferenzConference of the International Union of Microbeam Analysis Societies
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtKailua-Kona; Hawaii
Zeitraum9/07/0013/07/00

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Pabst, M. A., Mitterbauer, C., Letofsky-Papst, I., & Hofer, F. (2000). Analytical electron microscopy- an ultimate tool for exploring the enviromental living conditions 5300 years ago and nowadays. in D. B. Williams, & R. Shimizu (Hrsg.), Microbeam analysis 2000 (Band 165, S. 189-190). (Institute of Physics conference series). Bristol [u.a.]: IOP Publishing Ltd..