Analysis of Submicron Particles by Scanning Electron Microscopy-Energy-Dispersive X-ray Spectrometry—Accuracy of Size Measurement

Stefan Mitsche, Peter Pölt, Julian Wagner

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)282-288
FachzeitschriftScanning
Jahrgang28
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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