Analysis and metrological determination of the sensitivity distribution for a 16 electrode electrical capacitance tomography system

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelWorld Congress on Industrial Process Tomography
Herausgeber (Verlag).
Seiten141-148
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
VeranstaltungWorld Congress on Industrial Process Tomography - Bergen, Norwegen
Dauer: 3 Sep 20076 Sep 2007

Konferenz

KonferenzWorld Congress on Industrial Process Tomography
LandNorwegen
OrtBergen
Zeitraum3/09/076/09/07

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