An XPS and ISS investigation of oxide film formation on alloys by thermal, electrochemical and plasma oxidation

Robert Schennach, S Promreuk, D.G. Naugle, David L Cocke

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 14 Jun 1999
VeranstaltungSurface Analysis ’99, 21st Annual Symposium on Applied Surface Analysis - Waukesha, WI, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 14 Jun 199917 Jun 1999

Konferenz

KonferenzSurface Analysis ’99, 21st Annual Symposium on Applied Surface Analysis
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtWaukesha, WI
Zeitraum14/06/9917/06/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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