An inductive probe for the measurement of common mode currents on differential traces

Victor Khilkevich*, David Pommerenke, Li Gang, Xu Shuai

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

Measuring common mode currents on differential microstrip transmission lines is a complicated task, because the common mode current, being the parasitic mode, is usually much weaker than the intended differential current. Hence, the measurement technique has to provide sufficient rejection of the differential mode. The probe described in this paper uses a shielded loop probe combined with a metallic screen to enhance the differential mode rejection of the current probe. The proposed techniques were tested on a test board at frequencies up to 6 GHz.

Originalspracheenglisch
TitelEMC 2012 - 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Final Program
Seiten720-724
Seitenumfang5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 12 Dez. 2012
Extern publiziertJa
Veranstaltung2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2012 - Pittsburgh, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 5 Aug. 201210 Aug. 2012

Publikationsreihe

NameIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
ISSN (Print)1077-4076
ISSN (elektronisch)2158-1118

Konferenz

Konferenz2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtPittsburgh
Zeitraum5/08/1210/08/12

ASJC Scopus subject areas

  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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