An experimental investigation of higher order mode suppression in TEM cells

Shaowei Deng*, David Pommerenke, Todd Hubing, Dongshik Shin

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Abstract

Transverse electromagnetic (TEM) cells can be used to evaluate the electric and magnetic fields coupling from integrated circuits (ICs). The propagation and reflection of higher order modes in the cells limits the bandwidth of TEM cells. This paper investigates several methods for suppressing higher order modes in TEM cells in order to extend the applicable frequency range without changing the test topology. Numerical models and measurements of a modified TEM cell demonstrate how higher order mode suppression techniques can extend the useful frequency range of a TEM cell for IC measurements from 1 to 2.5 GHz.

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)416-419
Seitenumfang4
FachzeitschriftIEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Jahrgang50
Ausgabenummer2
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Mai 2008
Extern publiziertJa

ASJC Scopus subject areas

  • Atom- und Molekularphysik sowie Optik
  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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