An EBIC Model for TCAD Simulation to Determine the Surface Recombination Rate in Semiconductor Devices

Andrea Kraxner, Frederic Roger, Evelin Fisslthaler, Bernd Löffler, Rainer Minixhofer, Martin Faccinelli, Peter Hadley

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Fingerprint

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Chemie

Ingenieurwesen & Materialwissenschaft