An approach to characterize behavior of multiport ICs under ESD stress

Omid Hoseini Izadi, Kathleen Muhonen, Nathaniel Peachey, David Pommerenke

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „An approach to characterize behavior of multiport ICs under ESD stress“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Ingenieurwesen & Materialwissenschaft