AFM-SECM: Influence of tip geometry and insulation defects on diffusion controlled currents at conical electrodes

Kelly Leonhardt, Amra Avdic, Alois Lugstein, Ilya Pobelov, Thomas Wandlowski, Ming Wu, Bernhard Gollas, Guy Denuault

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)2971-2977
FachzeitschriftAnalytical Chemistry
Jahrgang83
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Theoretical
  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Dieses zitieren

Leonhardt, K., Avdic, A., Lugstein, A., Pobelov, I., Wandlowski, T., Wu, M., ... Denuault, G. (2011). AFM-SECM: Influence of tip geometry and insulation defects on diffusion controlled currents at conical electrodes. Analytical Chemistry, 83, 2971-2977.