AFM, ellipsometry, XPS and TEM on ultra-thin oxide/polymer nanocomposite layers in organic thin film transistors

Alexander Fian, Anja Haase, Barbara Stadelober, Georg Jakopic, Nadezda Matsko, Werner Grogger, Günther Leising

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)1455-1461
FachzeitschriftAnalytical and Bioanalytical Chemistry
Jahrgang390
Ausgabenummer6
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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