AFM, Ellipsometrie, XPS und TEM an ultradünnen Oxid/Polymer Nanokomposit

Alexander Fian, Barbara Stadelober, Georg Jakopic, Nadezda Matsko, Werner Grogger, Günther Leising

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalsprachedeutsch
Titel14.Tagung Festkörperanalytik
Herausgeber (Verlag).
SeitenKV24-KV24
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
VeranstaltungTagung Festkörperanalytik - Wien, Österreich
Dauer: 16 Jul 200718 Jul 2007

Konferenz

KonferenzTagung Festkörperanalytik
LandÖsterreich
OrtWien
Zeitraum16/07/0718/07/07

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Fian, A., Stadelober, B., Jakopic, G., Matsko, N., Grogger, W., & Leising, G. (2007). AFM, Ellipsometrie, XPS und TEM an ultradünnen Oxid/Polymer Nanokomposit. in 14.Tagung Festkörperanalytik (S. KV24-KV24). ..