Advanced X-ray spectrometry using ζ-factors at atomic resolution

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungEhanced Data Generated by Electrons (EDGE) - Sainte Maxime France
Dauer: 26 Mai 201331 Mai 2013

Konferenz

KonferenzEhanced Data Generated by Electrons (EDGE)
OrtSainte Maxime France
Zeitraum26/05/1331/05/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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