Advanced investigations of the composition of submicron particles by using EDXS and Monte Carlo methods

Julian Wagner, Mario Schmied, Stefan Mitsche

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
Titel13th European Microscopy Congress
Herausgeber (Verlag).
Seiten743-744
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004

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Wagner, J., Schmied, M., & Mitsche, S. (2004). Advanced investigations of the composition of submicron particles by using EDXS and Monte Carlo methods. in 13th European Microscopy Congress (S. 743-744). ..