Active feature models

Georg Langs, P. Peloschek, Rene Donner, M. Reiter, Horst Bischof

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProc. of 18th International Conference of Pattern Recognition
Herausgeber (Verlag).
Seiten417-420
BandVolume I
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungInternational Conference on Pattern Recognition: ICPR 2006 - Hong Kong, China
Dauer: 20 Aug. 200624 Aug. 2006

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Pattern Recognition
Land/GebietChina
OrtHong Kong
Zeitraum20/08/0624/08/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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