Ability and Limit of using commercial SMT Inductors as probes for Immunity and Emissions Near field scanning

Giorgi Muchaidze, Jayong Koo, T. Li, Q. Cai, Lijun Han, J. Min, David Johannes Pommerenke

Publikation: KonferenzbeitragPaper

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
Extern publiziertJa
VeranstaltungICONIC'2007: 3rd International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging - St. Louis, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 27 Jun 200729 Jun 2007

Konferenz

KonferenzICONIC'2007
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtSt. Louis
Zeitraum27/06/0729/06/07

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