Aberration-Corrected STEM Characterisation of Mn-ion Structural Displacements in La0.7Sr0.3MnO3 Interfacial Dead-Layers

P. Rajak, Daniel Knez, Sandeep Kumar Chaluvadi, Pasquale Orgiani, Giorgio Rossi, Laurence Méchin, Regina Ciancio

Publikation: KonferenzbeitragAbstractBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten419-420
PublikationsstatusVeröffentlicht - Sept. 2022
Veranstaltung16th Multinational Congress on Microscopy: 16MCM - Best Western Hotel, Brno, Tschechische Republik
Dauer: 4 Sept. 20229 Sept. 2022

Konferenz

Konferenz16th Multinational Congress on Microscopy
Kurztitel16MCM
Land/GebietTschechische Republik
OrtBrno
Zeitraum4/09/229/09/22

ASJC Scopus subject areas

  • Allgemeine Materialwissenschaften

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  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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