A Systematic Method to Characterize the Soft-Failure Susceptibility of the I/Os on an Integrated Circuit Due to Electrostatic Discharge

Benjamin J. Orr*, Sebastian Koch, Harald Gossner, David J. Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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