A study of a measurement and simulation method on ESD noise causing soft-errors by disturbing signals

Jongsung Lee*, Jaedeok Lim, Cheolgu Jo, Byongsu Seol, Argha Nandy, Tianqi Li, David Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

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Ingenieurwesen & Materialwissenschaft