A study of a measurement and simulation method on ESD noise causing soft-errors by disturbing signals

Jongsung Lee*, Jaedeok Lim, Cheolgu Jo, Byongsu Seol, Argha Nandy, Tianqi Li, David Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Abstract

A methodology to measure and simulate ESD induced noise on active IC Pins is introduced. A simple experimental setup injects ESD noise from an ESD generator and captures the waveforms. Secondly, the waveforms are simulated using a combination of 3D simulation and SPICE modeling

Originalspracheenglisch
TitelElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings - 2011, EOS/ESD 2011
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Nov 2011
Extern publiziertJa
Veranstaltung2011 33rd Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2011 - Anaheim, CA, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 11 Sep 201116 Sep 2011

Publikationsreihe

NameElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
ISSN (Print)0739-5159

Konferenz

Konferenz2011 33rd Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2011
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtAnaheim, CA
Zeitraum11/09/1116/09/11

ASJC Scopus subject areas

  • !!Electrical and Electronic Engineering

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