A Smart Card Test Environment Using Multi-Level Fault Injection in SystemC

Klaus Rothbart, Ulrich Neffe, Christian Steger, Reinhold Weiß, Edgar Rieger, Andreas Mühlberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelDigest of Papers / 6th IEEE Latin-American Test Workshop
Herausgeber (Verlag).
Seiten103-108
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
VeranstaltungIEEE Latin-American Test Workshop - Salvador, Brasilien
Dauer: 30 Mär 20052 Apr 2005

Konferenz

KonferenzIEEE Latin-American Test Workshop
Land/GebietBrasilien
OrtSalvador
Zeitraum30/03/052/04/05

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