A passive coupling circuit for injecting TLP-like stress pulses into only one end of a driver/receiver system

Benjamin Orr, David Johnsson, Krzysztof Domanski, Harald Gossner, David Pommerenke

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

In this paper, a simple passive circuit is presented which allows TLP stress and characterization pulses to be injected into only one side of a driver/receiver system. The circuit is simulated and tested, demonstrating the possibility for directional current injection on the order of 60:1. The circuit also provides a method for measuring both injected currents when paired with a typical TLP system.

Originalspracheenglisch
TitelElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings, EOS/ESD 2015
Herausgeber (Verlag)ESD Association
ISBN (elektronisch)1585372722, 9781585372737
PublikationsstatusVeröffentlicht - 30 Okt. 2015
Extern publiziertJa
Veranstaltung37th Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium: EOS/ESD 2015 - Reno, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 27 Sept. 20152 Okt. 2015

Publikationsreihe

NameElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
Band2015-October
ISSN (Print)0739-5159

Konferenz

Konferenz37th Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtReno
Zeitraum27/09/152/10/15

ASJC Scopus subject areas

  • Elektrotechnik und Elektronik

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