A new simulation method for Surface-Enhanced Raman Spectroscopy applicable to rough and highly irregular substrates

Publikation: StudienabschlussarbeitDissertation

Originalspracheenglisch
QualifikationDoktor der Technik
Gradverleihende Hochschule
  • Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)
Betreuer/-in / Berater/-in
  • Pölt, Peter, Betreuer
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018

ASJC Scopus subject areas

  • Allgemeine Materialwissenschaften

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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