A New Current Probe for Measuring Transient Events Under Data Traffic

Omid Hoseini Izadi, David Johannes Pommerenke, DongHyun Kim

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Abstract

Using inductive current measurement technique, a new current probe is proposed that allows transient current measurement on data traces without disturbing the normal operation or transfer rate of the trace under test. The proposed probe layout, circuit model, and frequency response is discussed in detail.
Originalspracheenglisch
TitelElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium 2020, Proceedings - EOS/ESD 2020
Seitenumfang8
ISBN (elektronisch)978-1-7281-9461-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 13 Sep 2020
Veranstaltung42nd Annual EOS/ESD Symposium - Hybrider Event, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 13 Sep 202017 Sep 2020

Konferenz

Konferenz42nd Annual EOS/ESD Symposium
KurztitelEOS/ESD 2020
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtHybrider Event
Zeitraum13/09/2017/09/20

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