Originalsprache | englisch |
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Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2008 |
Veranstaltung | XTOP 2008 - Linz, Austria Dauer: 15 Sep 2008 → 19 Sep 2008 |
Konferenz
Konferenz | XTOP 2008 |
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Ort | Linz, Austria |
Zeitraum | 15/09/08 → 19/09/08 |
Treatment code (Nähere Zuordnung)
- Experimental
Dies zitieren
A Combined X-ray Reflectivity, Ellipsometry and Atomic Force Micrsocopy Study on Thin Parylene-C Films. / Flesch, Heinz-Georg; Werzer, Oliver; Weis, Martin; Jakabovic, Jan; Kovac, Jaroslav; Hasko, Daniel; Jakopic, Georg; Wondergem, Harry J; Resel, Roland.
2008. Postersitzung präsentiert bei XTOP 2008, Linz, Austria, .Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
}
TY - CONF
T1 - A Combined X-ray Reflectivity, Ellipsometry and Atomic Force Micrsocopy Study on Thin Parylene-C Films
AU - Flesch, Heinz-Georg
AU - Werzer, Oliver
AU - Weis, Martin
AU - Jakabovic, Jan
AU - Kovac, Jaroslav
AU - Hasko, Daniel
AU - Jakopic, Georg
AU - Wondergem, Harry J
AU - Resel, Roland
PY - 2008
Y1 - 2008
M3 - Poster
ER -