A combined SNMS and EFTEM/EELS study on focused ion beam prepared vanadium nitride thin films

Gerald Kothleitner, Michael Rogers, A. Berendes, W. Bock, Bernd Kolbesen

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)66-76
FachzeitschriftApplied Surface Science
Jahrgang252
Ausgabenummer1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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