Originalsprache | englisch |
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Seiten (von - bis) | 66-76 |
Fachzeitschrift | Applied Surface Science |
Jahrgang | 252 |
Ausgabenummer | 1 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2005 |
A combined SNMS and EFTEM/EELS study on focused ion beam prepared vanadium nitride thin films
Gerald Kothleitner, Michael Rogers, A. Berendes, W. Bock, Bernd Kolbesen
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