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Erscheinungsjahr

  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017

Autor

  • Ferdinand Hofer

Direct imaging of channel constituents in beryl

Gspan, C., Grogger, W., Fitzek, H. M., Knez, D., Kothleitner, G., Gatterer, K. & Hofer, F., 2017, IAMNano 2017. S. 23

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

EELS and X-ray spectroscopic STEM imaging in 2D and 3D

Kothleitner, G., Haberfehlner, G., Meingast, A., Chan, H., Hofer, F. & Mendis, B., 2017, EDGE 2017. S. T39

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Electron beam induced dynamics of atoms and clusters in experiment and simulation

Knez, D., Haberfehlner, G., Thaler, P., VOLK, A., Ernst, W. E., Kothleitner, G., Furnival, T., Midgley, P. & Hofer, F., Apr 2017.

Publikation: KonferenzbeitragAbstract

Hybrid plasmonics: From plasmon-plasmon to plasmon-exciton coupling

Schmidt, F., Ditlbacher, H., Hohenau, A., Hohenester, U., Hofer, F. & Krenn, J., 2017, EDGE 2017. S. T45

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Inclusions in Si whiskers grown by Ni metal induced lateral crystallization

Radnóczi, G. Z., Knez, D., Hofer, F., Frangis, N., Vouroutzis, N., Stoemenos, J. & Pécz, B., 14 Apr 2017, in : Journal of Applied Physics. 121, 14, 145301.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

In situ studies of high-purity mono- and bimetallic nanostructures in experiment and simulation

Knez, D., Schnedlitz, M., Lasserus, M. I., Kothleitner, G., Hauser, A., Ernst, W. E. & Hofer, F., Aug 2017, S. 582.

Publikation: KonferenzbeitragAbstract

In situ studies of high-purity mono- and bimetallic nanostructures in experiment and simulation

Knez, D., Schnedlitz, M., Lasserus, M. I., Kothleitner, G., Hauser, A., Ernst, W. E. & Hofer, F., 2017, ASEM. S. 47

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Oxygen exchange kinetics of La0.6Sr0.4CoO3-δ affected by changes of the surface composition due to chromium and silicon poisoning

Bucher, E., Gspan, C., Höschen, T., Hofer, F. & Sitte, W., 2017, in : Solid State Ionics. 299, S. 26-31

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Spectrum image analysis tool - A flexible MATLAB solution to analyze EEL and CL spectrum images

Schmidt, F., Hofer, F. & Krenn, J. R., 2017, in : Micron. 93, S. 43-51

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

STEM study of NiSi2/Si interface at inclusion boundaries

Radnóczi, G. Z., Knez, D., Hofer, F., Frangis, N., Vouroutzis, N., Stoemenos, J. & Pécz, B., 24 Sep 2017, MCM2017 conference . 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Thermally induced breakup of metallic nanowires: Experiment and theory

Schnedlitz, M., Lasserus, M., Knez, D., Hauser, A. W., Hofer, F. & Ernst, W. E., 2017, in : Physical chemistry, chemical physics. 19, 14, S. 9402-9408 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Thermal vs. beam induced dynamics in the TEM: in situ experiments and simulation

Knez, D., Lasserus, M. I., Schnedlitz, M., Fisslthaler, E., Ernst, W. E. & Hofer, F., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 96-98

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Thermal vs. beam induced dynamics in the TEM: in situ experiments and simulation

Knez, D., Lasserus, M. I., Schnedlitz, M., Fisslthaler, E., Ernst, W. & Hofer, F., 26 Sep 2017, S. 45.

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Transformation dynamics of Ni clusters into NiO rings under electron beam irradiation

Knez, D., Thaler, P., VOLK, A., Kothleitner, G., Ernst, W. & Hofer, F., 2017, in : Ultramicroscopy. 176, S. 105-111

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Transformation dynamics of Ni clusters into NiO rings under electron beam irradiation

Knez, D., Thaler, P., Volk, A., Kothleitner, G., Ernst, W. E. & Hofer, F., 1 Mai 2017, in : Ultramicroscopy. 176, S. 105-111 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Universal pressure scanning electron microscopy (UPSEM) –electron microscopy from high vacuum to atmospheric pressure

Rattenberger, J., Achtsnit, T., Fitzek, H. M., Schröttner, H. & Hofer, F., 2017, MC2017. S. IM1.012

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband