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Autor

  • Peter Hadley

An EBIC and SRP study on thermal donors in proton implanted p-type magnetic Czochralski silicon

Faccinelli, M., Kirnstötter, S., Schustereder, W., Laven, J. G. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

An EBIC Model for TCAD Simulation to Determine the Surface Recombination Rate in Semiconductor Devices

Kraxner, A., Roger, F., Fisslthaler, E., Löffler, B., Minixhofer, R., Faccinelli, M. & Hadley, P., 2016, in : IEEE Transactions on Electron Devices. 63, 11, S. 4395-4401 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

An Extended EDMR Setup for SiC Defect Characterization

Gruber, G., Koch, M., Pobegen, G., Nelhiebel, M. & Hadley, P., 2013, Silicon Carbide and Related Materials 2012. Trans Tech Publications Ltd., S. 365-368

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Characterization of Moisture Uptake in Microelectronics Packaging Materials

Huber, F., Etschmaier, H., Wolfberger, A., Singulani, A. & Hadley, P., 26 Nov 2018, 2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 8546489

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Depletion of superjunction power MOSFETs visualized by electron beam induced current and voltage contrast measurements

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. 1, S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance of carbon dangling bonds at the Si-face 4H-SiC/SiO2 interface

Gruber, G., Cottom, J., Meszaros, R., Koch, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Peters, D. & Hadley, P., 28 Apr 2018, in : Journal of Applied Physics. 123, 16, 161514.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance study of defects created by hot carrier stress at the SiC/SiO2 interface of a SiC n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Gruber, G., Hadley, P., Koch, M. & Aichinger, T., 2014, in : Applied Physics Letters. 105, S. 043506-043506

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance study on defects in Si pn-junctions created by proton implantation

Gruber, G., Kirnstötter, S., Hadley, P., Koch, M., Aichinger, T., Schulze, H. & Schustereder, W., 2014, in : Physica status solidi / C. S. 1-4

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electron Beam-Induced Current (EBIC) in solution-processed solar cells

Reuter, P., Rath, T., Fischereder, A., Trimmel, G. & Hadley, P., 2011, in : Scanning. 33, 1, S. 1-6

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

H+ implantation profile formation in m: Cz and Fz silicon

Kirnstoetter, S., Faccinelli, M., Hadley, P., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G. & Schulze, H. J., 29 Okt 2014, Proceedings of the International Conference on Ion Implantation Technology. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6940055

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

High dose proton implantations into silicon: a combined EBIC, SRP and TEM study

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Gspan, C., Grogger, W., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. 1, S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Hydrogen decoration of radiation damage induced defect structures

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : AIP Conference Proceedings. 1583, 51

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Impact of the NO Anneal on the Microscopic Structure and Chemical Composition of the Si‐Face 4H‐SiC/SiO2 Interface

Gruber, G., Gspan, C., Fisslthaler, E., Dienstleder, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Meszaros, R., Grogger, W. & Hadley, P., 2018, in : Advanced energy materials. 5, S. 1800022 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Open Access

Influence of oxide processing on the defects at the SiC-SiO2 interface measured by electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Aichinger, T., Pobegen, G., Peters, D., Koch, M. & Hadley, P., 2016, Silicon Carbide and Related Materials 2015. Trans Tech Publications Ltd., Band 858. S. 643-646 4 S. (Materials Science Forum; Band 858).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

In-situ XRD and FIB microscopy studies of the dynamics of intermetallic phase formation in thin layer Cu/Sn films for low-temperature isothermal diffusion soldering

Hadley, P., 2011, MRS Proceedings. ., S. mrs10-131-0

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Interface defects in SiC power MOSFETs - An electrically detected magnetic resonance study based on spin dependent recombination

Gruber, G., Koch, M., Hadley, P., Peters, D. & Aichinger, T., 2014, in : AIP Conference Proceedings. 1583, S. 165-168

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Investigation of performance limiting point defects at semiconductor-oxide interfaces using electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Koch, M. & Hadley, P., 2014, 64. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft / Echophysics-Pöllau. ., S. 12-12

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Investigations on CMOS photodiodes using scanning electron microscopy with electron beam induced current measurements

Kraxner, A., Roger, F., Loeffler, B., Faccinelli, M., Kirnstoetter, S., Minixhofer, R. & Hadley, P., 2014, Scanning Microscopies 2014. SPIE, Band 9236. 923607

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

MOSFET Aging Measurements and Hot-Electron Degradation Models

Schiffmann, A., Okt 2016, (Unveröffentlicht) 149 S.

Publikation: StudienabschlussarbeitDiplomarbeitForschung

Optimizing a sub-wavelength grating lens for large incidence angles

Elsinger, L., Hadley, P., Minixhofer, R. & Singulani, A., 2015, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. SPIE, Band 9556. 95560O

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Organic field-effect transistors: Tetrathiafulvalene derivatives as highly promising organic semiconductors

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Bromley, S. T., Veciana, J. & Rovira, C., 2011, Organic Semiconductors: Properties, Fabrication and Applications. Nova Science Publishers, Inc., S. 171-186 16 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/BerichtForschungBegutachtung

Physical Implementation of an ASIC

Schiffmann, A., 22 Sep 2014, 47 S.

Publikation: StudienabschlussarbeitBachelorarbeitForschung

Recombination centers in 4H-SiC investigated by electrically detected magnetic resonance and ab initio modeling

Cottom, J., Gruber, G., Hadley, P., Koch, M., Pobegen, G., Aichinger, T. & Shluger, A., 14 Mai 2016, in : Journal of Applied Physics. 119, 18, 181507.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Simulation of the proton implantation process in silicon

Faccinelli, M., Jelinek, M., Wuebben, T., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 19 Jul 2016, in : Physica status solidi / C. 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Thermodynamic properties of separable square-wave potentials

Hadley, P. & Kollmitzer, B., 2011, in : Physica / B. 406, S. 4373-4380

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung