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Erscheinungsjahr

  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016

Autor

  • Werner Grogger
2016

Experimental Determination of the Solid Angle of EDXS Detectors

Kraxner, J. & Grogger, W., 2016, 6th ASEM-Workshop. Leoben, S. 21 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2019

Atomic Structure Analysis of Ba1.1La1.9Fe2O7 Using High-Resolution STEM

Lammer, J., Berger, C., Knez, D., Longo, P., Kothleitner, G., Schrödl, N., Bucher, E., Egger, A., Merkle, R., Sitte, W., Maier, J. & Grogger, W., Apr 2019, 9th ASEM Workshop. S. 17

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2018

Oxide Ceramic-Electrode Systems: STEM EDXS Analysis and Heating Experiments

Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Rauch, S. & Grogger, W., 10 Sep 2018, S. 110.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Fisslthaler, E., Dienstleder, M. & Grogger, W., 27 Aug 2018.

Publikation: KonferenzbeitragAbstractForschungBegutachtung

2017

Quantitative analysis of internal interfaces - structural and quantitative analysis via high resolution STEM

Fisslthaler, E., Gspan, C., Haberfehlner, G. & Grogger, W., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 729-730

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2020

Oxygen surface exchange kinetics and electronic conductivity of the thirdorder Ruddlesden-Popper phase Pr4Ni2.7Co0.3O10-δ

Berger, C., Bucher, E., Egger, A., Schrödl, N., Lammer, J., Gspan, C., Merkle, R., Grogger, W., Maier, J. & Sitte, W., 2020, in : Solid State Ionics. 348, S. 115282 9 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2016

Experimental Determination of the Solid Angle of EDXS Detectors

Lammer, J., Kraxner, J. & Grogger, W., 2016.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2016

Fundamentals of electron energy-loss spectroscopy

Hofer, F., Schmidt, F-P., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2016, in : IOP Conference Series / Materials Science and Engineering. 109, S. 1-9 9 S., 012007.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2018

Intermetallic Compound and Void Kinetics Extraction From Resistance Evolution in Copper Pillars During Electromigration Stress Tests

Hartler, C., Moreau, S., Chery, E., Charbonnier, J., Siegert, J., Plihon, A., Assous, M., Mitsche, S., Simic, S., Schrank, F. & Grogger, W., 2018, in : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 18, 2, S. 313-320 17822358.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

2016
2019

High-resolution cross-sectional analysis of the interface between SiC and SiO2 in a MOSFET device via atomic resolution STEM

Fisslthaler, E., Haberfehlner, G., Gspan, C., Gruber, G. & Grogger, W., 2019, in : Microelectronics Reliability. 100-101, 6 S., 113366.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2018

Oxide Ceramic-Electrode Systems: STEM EDXS Analysis and Heating Experiments

Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Rauch, S. & Grogger, W., 10 Sep 2018, S. 110.

Publikation: KonferenzbeitragAbstractForschung

2017

Investigation of domains in Pr2NiO4+delta by transmission electron microscopy

Gspan, C., Bucher, E., Egger, A., Schrödl, N., Berger, C., Dienstleder, M., Mitsche, S., Sitte, W. & Grogger, W., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 622-625

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Quantitative Analysis of Internal Interfaces Structural and quantitative analysis via High resolution STEM

Fisslthaler, E., Gspan, C., Haberfehlner, G. & Grogger, W., 2017, ASEM. S. 55

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Optimization of post-tratment of TEM lamella by low-energy ion milling

Seidl, R., Dienstleder, M., Grogger, W. & Fisslthaler, E., 2016, 6th ASEM-Workshop. Leoben, S. 20 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2019

Measuring the Temperature Homogeneity Across FIB Lamellae for In Situ TEM Experiments via Raman Scattering in Crystalline Silicon

Krisper, R., Fitzek, H. M., Fisslthaler, E. & Grogger, W., 2019, Proceedings-14th Multinational Congress on Microscopy, Belgrad-Serbia, Sept. 15-20 2019. S. 79-80

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

In situ observation of precipitate growth and decomposition in AlCu4 during heat treatment via analytical STEM

Fisslthaler, E., Krisper, R. & Grogger, W., 2019, Proceedings-14th Multinational Congress on Microscopy, Belgrad-Serbia, Sept. 15-20 2019. S. 92-94 3 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2016

Experimental Determination of the Solid Angle of EDXS Detectors

Lammer, J., Kraxner, J. & Grogger, W., 2016, The 16th European Microscopy Congress 2016: Instrumentation and Methods. S. Abstract Nr.: 6733 Session Code: IM08-431

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Open Access
2018

A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Fisslthaler, E., Dienstleder, M., Rauch, S. & Grogger, W., 27 Aug 2018.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Dienstleder, M., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, ELMINA 2018. S. PO1,8

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2017
2016

Experimental Determination of the Solid Angle of EDXS Detectors

Lammer, J., Kraxner, J. & Grogger, W., 30 Sep 2016. 1 S.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Datei
2019

Spectroscopic STEM imaging in 2D and 3D

Kothleitner, G., Albu, M., Grogger, W., Haberfehlner, G. & Hofer, F., Feb 2019, 2 S.

Publikation: Andere BeiträgeSonstiger BeitragForschung

2018

In-Situ TEM: The Influence of IR Radiation on EDXS at Elevated Sample Temperatures

Krisper, R., Zakhozheva, M., Fisslthaler, E. & Grogger, W., 2018, Program & Abstract Book. S. 39-40

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Analytical Scanning Transmission Electron Microscopy at Atomic Resolution

Hofer, F., Grogger, W., Gspan, C., Haberfehlner, G., Albu, M., Schmidt, F. & Knez, D., Apr 2016.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2017
Datei
2016

The impact of doping rates on the morphologies of silver and gold nanowires grown in helium nanodroplets

Volk, A., Thaler, P., Knez, D., Hauser, A., Steurer, J., Grogger, W., Hofer, F. & Ernst, W., 2016, in : Physical chemistry, chemical physics. 18, S. 1451-1459

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Vortex Assisted Growth of Metallic Nanowires in Superfluid Helium Droplets

VOLK, A., Thaler, P., Hauser, A., Knez, D., Grogger, W., Hofer, F. & Ernst, W. E., 6 Mär 2016.

Publikation: KonferenzbeitragAbstractForschungBegutachtung

2017

Quantitative EDXS: Influence of geometry on a four detector system

Kraxner, J., Schäfer, M., Röschel, O., Kothleitner, G., Haberfehlner, G., Paller, M. & Grogger, W., 2017, in : Ultramicroscopy. 172, S. 30-39

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Investigation of domains in Pr2NiO4+delta by transmission electron microscopy

Gspan, C., Bucher, E., Egger, A., Schrödl, N., Dienstleder, M., Mitsche, S., Sitte, W. & Grogger, W., 27 Sep 2017, S. 60.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

2019

Measuring the Temperature Homogeneity Across FIB Lamellae for In Situ TEM Exoeriments via Raman Scattering in Crystalline Silicon

Krisper, R., Fitzek, H. M., Fisslthaler, E. & Grogger, W., Apr 2019, Workshop Handbook: Program & Abstract. S. 48

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Fundamentals of electron energy-loss spectroscopy

Hofer, F., Schmidt, F., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2016, IOP Conf.Series: Materials Science and Engineering: EMAS 2015 Workshop. Band 109. S. 012007 9 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2019

High-resolution cross-sectional analysis of the interface between SiC and SiO2 in a MOSFET device via atomic resolution STEM

Fisslthaler, E., Haberfehlner, G., Gspan, C., Gruber, G. & Grogger, W., 2019, ESREF2019_Proceedings. 6 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Investigation of Interface Transition Chemistry in Semiconductor Structures via Monochromated EELS

Fisslthaler, E., Haberfehlner, G. & Grogger, W., Apr 2019, Workshop Handbook: Program & Abstract. S. 43

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2017

How sample holder geometries influence the quantification of X-ray spectra

Lammer, J., Kraxner, J., Haberfehlner, G., Kothleitner, G. & Grogger, W., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 205-207

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2018

Analytical TEM of organic electronics with a special focus on EDXS and geometry aspects

Kraxner, J., 2018

Publikation: StudienabschlussarbeitDissertationForschung

2019
2018

Impact of the NO Anneal on the Microscopic Structure and Chemical Composition of the Si‐Face 4H‐SiC/SiO2 Interface

Gruber, G., Gspan, C., Fisslthaler, E., Dienstleder, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Meszaros, R., Grogger, W. & Hadley, P., 2018, in : Advanced energy materials. 5, S. 1800022 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Open Access
2017

Direct imaging of channel constituents in beryl

Gspan, C., Grogger, W., Fitzek, H. M., Knez, D., Kothleitner, G., Gatterer, K. & Hofer, F., 2017, IAMNano 2017. S. 23

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2019

Analytical Electron Microscopy: Recent Advances and New Applications

Hofer, F., Albu, M., Grogger, W., Haberfehlner, G., Knez, D., Lammer, J., Schmidt, F. & Kothleitner, G., 2019, Proceedings-14th Multinational Congress on Microscopy, Belgrad-Serbia, Sept. 15-20 2019. S. 66-67

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2018

High-resolution imaging and spectroscopy: Analysis of a n=2 Ruddlesden-Popper phase at the atomic scale

Lammer, J., Berger, C., Bucher, E. & Grogger, W., 21 Sep 2018.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Oxide Ceramic-Electrode Systems: STEM EDXS Analyses and Heating Experiments

Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, Program & Abstract Book. S. 22-23

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Switching from weakly to strongly limited injection in self-aligned, nano-patterned organic transistors

Zojer, K., Rothländer, T., Kraxner, J., Schmied, R., Palfinger, U., Plank, H., Grogger, W., Haase, A., Gold, H. & Stadlober, B., 2016, in : Scientific Reports. 6, 31387.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Open Access
2019

Atomic Structure Analysis of a 2nd Order Ruddlesden-Popper Ferrite – a High-resolution STEM Study

Lammer, J., Berger, C., Knez, D., Haberfehlner, G., Longo, P., Kothleitner, G., Schrödl, N., Bucher, E., Egger, A., Merkle, R., Sitte, W., Maier, J. & Grogger, W., 2019, MODELLING AND CHARACTERIZATION. Band Digital. S. Z 1.7

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung