3D Elemental Mapping using X-Ray Spectrometry in a Dual Beam-Focused Ion Beam

Julian Wagner, Miroslava Schaffer, Mario Schmied, M. Novak

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMicroscopy and Microanalysis
Herausgeber (Verlag).
Seiten1242-1243
Band12, Suppl.
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis - Chicago, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Jul 20063 Aug 2006

Publikationsreihe

NameMicroscopy and microanalysis

Konferenz

KonferenzMicroscopy and Microanalysis
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtChicago
Zeitraum30/07/063/08/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Dieses zitieren

Wagner, J., Schaffer, M., Schmied, M., & Novak, M. (2006). 3D Elemental Mapping using X-Ray Spectrometry in a Dual Beam-Focused Ion Beam. in Microscopy and Microanalysis (Band 12, Suppl., S. 1242-1243). (Microscopy and microanalysis). .. https://doi.org/10.1017/S1431927606066980