2D Maps for Visual Analysis and Retrieval in Large Multi-Feature 3D Model Databases

Benjamin Bustos, Daniel A. Keim, Christian Panse, Tobias Schreck

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelIEEE Visualization 2004
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten1-2
ISBN (Print)0-7803-8788-0
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
VeranstaltungIEEE Visualization Conference: IEEE VIS 2004 - Austin, Tex., USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 10 Okt. 200415 Okt. 2004

Konferenz

KonferenzIEEE Visualization Conference
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtAustin, Tex.
Zeitraum10/10/0415/10/04

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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