Schwingungsspektroskopische Analyse von dünnen organischen Schichten

  • Brandl, Christian (Teilnehmer (Co-Investigator))
  • Wilhelm, Peter, (Projektleiter (Principal Investigator))

Projekt: Foschungsprojekt

Projektdetails

Beschreibung

Bei sehr dünnen organischen Schichten (Dicke wenige nm) auf einem reflektierenden Substrat (Metall) kann durch streifenden Einfall des IR-Lichtes unter Erhalt der Polarisationsrichtung die Wechselwirkung zwischen Licht und Materie verstärkt werden, wodurch sich eine wesentlich erhöhte Nachweisempfindlichkeit ergibt.
StatusLaufend
Tatsächlicher Beginn/ -es Ende1/01/03 → …