Sub-Nanometeranalytik mittels EFTEM und STEM

Projekt: Arbeitsgebiet

Beschreibung

Mit Hilfe der neuen Generation von Analytischen Hochauflösungs-elektronenmikroskopen können Werkstoffe mit einer lateralen Auflösung kleiner als 1 Nanometer analysiert werden. Zwei Methoden stehen dafür zur Verfügung: Die hochauflösende EFTEM kann für Nanobereichsanalysen sowohl von Werkstoffen als auch von biologischen Proben eingesetzt werden. Mit der EFTEM kann die Verteilung der chemischen Elemente mit Nanometer-Auflösung gemessen werden und neueste Experimente zeigten, dass sogar sub-Nanometer-Auflösung möglich ist. Im Rahmen dieses Projektes planen wir derartige Experimente durchzuführen und mit der zweiten Methode zu vergleichen. Es handelt sich dabei um die hochauflösende Rastertransmissions-Elektronenmikroskopie (STEM) mit einem 0.2 nm feinen Strahl. Mit dieser Methode können lokale Änderungen der chemischen Zusammensetzung mit atomarer Auflösung gemessen werden. Diese Experimente sollen mit Bildsimulationen verglichen werden, die in Kooperation mit theoretisch orientierten Arbeitsgruppen berechnet werden sollen.
StatusAbschlussdatum
Tatsächlicher Beginn/ -es Ende1/10/0031/01/04