Robust SiC - Robustes Mehrkanal-Anwendungsstresskonzept für neue Hochleistungs-Halbleitertechnologien

Projekt: Foschungsprojekt

Projektdetails

Beschreibung

Entwicklung von Methoden für die Bauteilcharakterisierung in der Schaltungsumgebung ohne Testunterbrechung während eines applikationsorientierten Stesstests.
StatusLaufend
Tatsächlicher Beginn/ -es Ende1/03/1928/02/22