FWF - Robust IC - Untersuchung der Störfestigkeit von analogen integrierten Schaltungen

Michalowska-Forsyth, Alicja Malgorzata (Teilnehmer (Co-Investigator))

Institut für Elektronik (4390)

Projekt: Foschungsprojekt

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2018

Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing
Bezhenova, V. & Michalowska-Forsyth, A. M., Apr 2018, S. 21. 1 S.
Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract

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