Elektromagnetische Verträglichkeit elektronischer Systeme

Publikationen

Publikationen pro Jahr 2001 2003 2004 2004

• 8 Beitrag in einem Konferenzband
• 2 (Altdaten) Vortrag oder Präsentation
• 2 Artikel

Publikationen pro Jahr

Publikationen pro Jahr

Suchergebnisse

• 2004

  Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

  Ostermann, T., Lamedschwandner, K., Deutschmann, B. & Winkler, G., 2004, 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004. Berlin Offenbach: VDE Verlag GmbH, S. 421-427

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

• Measuring the Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits with IEC 61967-4

  Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2004, Symposium record ; vol. 1. Piscataway, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 12-17

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

• Störemission von integrierten Schaltungen auf Leiterplatten

  Winkler, G. & Deutschmann, B., 21 Apr. 2004.

  Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation
• 2003

  Effects of Skewing Output Driver Switching on the Electromagnetic Emission

  Deutschmann, B., Jungreithmair, R. & Winkler, G., 2003, IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility 2003. ., S. 236-241

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

• EMV-Anforderungen an informationstechnische Einrichtungen (EN55024)

  Deutschmann, B. & Winkler, G., 26 Feb. 2003.

  Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

• EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

  Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, in: Test-Kompendium. 2003, S. 35-37

  Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel

• Messmethode zur Messung der leitungsgeführten Störemission von ICs (Die Probleme mit der 150 Ohm Methode, IEC 61967-4)

  Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, in: EMC-Kompendium. 2003, S. 174-176

  Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel

• Störemission integrierter Schaltungen im Vergleich zur Störstrahlung elektronischer Geräte

  Winkler, G., Deutschmann, B., Lamedschwandner, K. & Ostermann, T., 2003, Beiträge der Informationstagung Mikroelektronik 2003. Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Band 33. S. 221-226 (ÖVE-Schriftenreihe).

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
• 2002

  Characterization of Integrated Circuits Electromagnetic Emission with IEC 61967-4

  Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2002, International Symposium on Electromagnetic Compatibility. ., S. 493-497

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

• Measuring the Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits with IEC 61967-4 ((The Measuring Method and its Weaknesses)

  Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2002, Symposium record ; vol. 1. Piscataway, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 407-412

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• 2001

  Moderate Slew Rate for Reducing the High Frequency Content

  Deutschmann, B. & Winkler, G., 2001, ISTET 01 ; Vol. 2. Linz: ., S. 154-157

  Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

• Moderate Slew Rate zur Reduzierung hochfrequenter Spektralanteile

  Deutschmann, B. & Winkler, G., 2001, Beiträge der Informationstagung ME 01. Wien: Eigenverl. des Österr. Verb. für Elektrotechnik, Band 26. S. 333-338 (ÖVE-Schriftenreihe).

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