Kristallographische Strukturbestimmung im SEM (OIM + Phasenanalyse)

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• 2003

  EBSD - Contamination, Calibration and Specimen Damage

  Pölt, P. & Mitsche, S., 2003, EMAS 2003, 8th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis, Spain, Book of Abstracts. ., S. 331-331

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• Quantification of the Recrystallized Fraction in a Nickel-Base-Alloy from EBSD-Data

  Mitsche, S., Pölt, P., Sommitsch, C. & Walter, M., 2003, in: Microscopy and Microanalysis. Suppl. 3, 9, S. 344-345

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