Charakterisierung der Grenzfläche von Pt und NiO aus einer coulometrischen Titrationszelle

Die Phasengrenzflaeche zwischen einer Pt-Schicht und einem NiO Kristall, als wesentliche Bestandteile einer coluometrischen Titrationszelle, wurde mittels Analytischer Elektronenmikroskopie untersucht. An der Grenzflaeche wurden unbekannte Strukturen gefunden, die im Detail auf ihre quantitative chemische Zusammensetzung hin mittels EELS und EFTEM untersucht wurden. Es handelte sich dabei um Schichten unterschiedlichen Gehaltes an Pt, Ni und O: 13nm Pt (Hauptbestandteil), 32nm Ni (Hauptbestandteil) und 29nm Pr (Hauptbestandteil).