1991 …2019

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2018

Characterization of Moisture Uptake in Microelectronics Packaging Materials

Huber, F., Etschmaier, H., Wolfberger, A., Singulani, A. & Hadley, P., 26 Nov 2018, 2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 8546489

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2016

Influence of oxide processing on the defects at the SiC-SiO2 interface measured by electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Aichinger, T., Pobegen, G., Peters, D., Koch, M. & Hadley, P., 2016, Silicon Carbide and Related Materials 2015. Trans Tech Publications Ltd., Band 858. S. 643-646 4 S. (Materials Science Forum; Band 858).

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2015

Optimizing a sub-wavelength grating lens for large incidence angles

Elsinger, L., Hadley, P., Minixhofer, R. & Singulani, A., 2015, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. SPIE, Band 9556. 95560O

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2014

H+ implantation profile formation in m: Cz and Fz silicon

Kirnstoetter, S., Faccinelli, M., Hadley, P., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G. & Schulze, H. J., 29 Okt 2014, Proceedings of the International Conference on Ion Implantation Technology. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6940055

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Investigation of performance limiting point defects at semiconductor-oxide interfaces using electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Koch, M. & Hadley, P., 2014, 64. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft / Echophysics-Pöllau. ., S. 12-12

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Investigations on CMOS photodiodes using scanning electron microscopy with electron beam induced current measurements

Kraxner, A., Roger, F., Loeffler, B., Faccinelli, M., Kirnstoetter, S., Minixhofer, R. & Hadley, P., 2014, Scanning Microscopies 2014. SPIE, Band 9236. 923607

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2013

An Extended EDMR Setup for SiC Defect Characterization

Gruber, G., Koch, M., Pobegen, G., Nelhiebel, M. & Hadley, P., 2013, Silicon Carbide and Related Materials 2012. Trans Tech Publications Ltd., S. 365-368

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2011

In-situ XRD and FIB microscopy studies of the dynamics of intermetallic phase formation in thin layer Cu/Sn films for low-temperature isothermal diffusion soldering

Hadley, P., 2011, MRS Proceedings. ., S. mrs10-131-0

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2006

Field emission as transducer for sub-micron and nano resonators

Yang, C. K., French, P. J., Van Der Drift, E., Kim, J. R. & Hadley, P., 2006, Proceedings of IEEE Sensors. S. 1207-1210 4 S. 4178839

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Low-temperature solid-phase epitaxy of defect-free aluminum p +-doped silicon for nanoscale device applications

Civale, Y., Nanver, L. K., Hadley, P., Goudena, E. J. G., Van Zeijl, H. W. & Schellevis, H., 2006, Materials Research Society Symposium Proceedings. Band 940. S. 1-6 6 S.

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Organic Molecular WIres

Hadley, P., 2006, International Conference on Solid State Devices and Materials. ., S. 826-827

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Open Access
Datei
2004

Bottom-up nanoelectronics

Hadley, P., 2004, Conference Proceedings - 7th European Conference on Wireless Technology, ECWT2004. S. 309-313 5 S.

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