1991 …2019

Research output per year

Wenn Sie Änderungen in Pure vorgenommen haben, werden diese hier in Kürze erscheinen.

Publikationen

2019

Manipulating drug release from tridimensional porous substrates coated by initiated chemical vapor deposition

Ghasemi-Mobarakeh, L., Werzer, O., Keimel, R., Kolahreez, D., Hadley, P. & Coclite, A. M., 2019, in : Journal of applied polymer science. 136, 33, 47858.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2018

Characterization of Moisture Uptake in Microelectronics Packaging Materials

Huber, F., Etschmaier, H., Wolfberger, A., Singulani, A. & Hadley, P., 26 Nov 2018, 2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 8546489

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance of carbon dangling bonds at the Si-face 4H-SiC/SiO2 interface

Gruber, G., Cottom, J., Meszaros, R., Koch, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Peters, D. & Hadley, P., 28 Apr 2018, in : Journal of Applied Physics. 123, 16, 161514.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Impact of the NO Anneal on the Microscopic Structure and Chemical Composition of the Si‐Face 4H‐SiC/SiO2 Interface

Gruber, G., Gspan, C., Fisslthaler, E., Dienstleder, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Meszaros, R., Grogger, W. & Hadley, P., 2018, in : Advanced energy materials. 5, S. 1800022 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Open Access
2016

An EBIC Model for TCAD Simulation to Determine the Surface Recombination Rate in Semiconductor Devices

Kraxner, A., Roger, F., Fisslthaler, E., Löffler, B., Minixhofer, R., Faccinelli, M. & Hadley, P., 2016, in : IEEE Transactions on Electron Devices. 63, 11, S. 4395-4401 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Influence of oxide processing on the defects at the SiC-SiO2 interface measured by electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Aichinger, T., Pobegen, G., Peters, D., Koch, M. & Hadley, P., 2016, Silicon Carbide and Related Materials 2015. Trans Tech Publications Ltd., Band 858. S. 643-646 4 S. (Materials Science Forum; Band 858).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

MOSFET Aging Measurements and Hot-Electron Degradation Models

Schiffmann, A., Okt 2016, (Unveröffentlicht) 149 S.

Publikation: StudienabschlussarbeitDiplomarbeitForschung

Recombination centers in 4H-SiC investigated by electrically detected magnetic resonance and ab initio modeling

Cottom, J., Gruber, G., Hadley, P., Koch, M., Pobegen, G., Aichinger, T. & Shluger, A., 14 Mai 2016, in : Journal of Applied Physics. 119, 18, 181507.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Simulation of the proton implantation process in silicon

Faccinelli, M., Jelinek, M., Wuebben, T., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 19 Jul 2016, in : Physica status solidi / C. 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2015

Optimizing a sub-wavelength grating lens for large incidence angles

Elsinger, L., Hadley, P., Minixhofer, R. & Singulani, A., 2015, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. SPIE, Band 9556. 95560O

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2014

An EBIC and SRP study on thermal donors in proton implanted p-type magnetic Czochralski silicon

Faccinelli, M., Kirnstötter, S., Schustereder, W., Laven, J. G. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Depletion of superjunction power MOSFETs visualized by electron beam induced current and voltage contrast measurements

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. 1, S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance study of defects created by hot carrier stress at the SiC/SiO2 interface of a SiC n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Gruber, G., Hadley, P., Koch, M. & Aichinger, T., 2014, in : Applied Physics Letters. 105, S. 043506-043506

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrically detected magnetic resonance study on defects in Si pn-junctions created by proton implantation

Gruber, G., Kirnstötter, S., Hadley, P., Koch, M., Aichinger, T., Schulze, H. & Schustereder, W., 2014, in : Physica status solidi / C. S. 1-4

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

H+ implantation profile formation in m: Cz and Fz silicon

Kirnstoetter, S., Faccinelli, M., Hadley, P., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G. & Schulze, H. J., 29 Okt 2014, Proceedings of the International Conference on Ion Implantation Technology. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6940055

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

High dose proton implantations into silicon: a combined EBIC, SRP and TEM study

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Gspan, C., Grogger, W., Jelinek, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : Physica status solidi / C. 1, S. 1610-1642

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Hydrogen decoration of radiation damage induced defect structures

Kirnstötter, S., Faccinelli, M., Schustereder, W., Laven, J. G., Schulze, H-J. & Hadley, P., 2014, in : AIP Conference Proceedings. 1583, 51

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Interface defects in SiC power MOSFETs - An electrically detected magnetic resonance study based on spin dependent recombination

Gruber, G., Koch, M., Hadley, P., Peters, D. & Aichinger, T., 2014, in : AIP Conference Proceedings. 1583, S. 165-168

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Investigation of performance limiting point defects at semiconductor-oxide interfaces using electrically detected magnetic resonance

Gruber, G., Koch, M. & Hadley, P., 2014, 64. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft / Echophysics-Pöllau. ., S. 12-12

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Investigations on CMOS photodiodes using scanning electron microscopy with electron beam induced current measurements

Kraxner, A., Roger, F., Loeffler, B., Faccinelli, M., Kirnstoetter, S., Minixhofer, R. & Hadley, P., 2014, Scanning Microscopies 2014. SPIE, Band 9236. 923607

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Physical Implementation of an ASIC

Schiffmann, A., 22 Sep 2014, 47 S.

Publikation: StudienabschlussarbeitBachelorarbeitForschung

2013

An Extended EDMR Setup for SiC Defect Characterization

Gruber, G., Koch, M., Pobegen, G., Nelhiebel, M. & Hadley, P., 2013, Silicon Carbide and Related Materials 2012. Trans Tech Publications Ltd., S. 365-368

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2012

Imaging Superjunctions in CoolMOS Devices Using Electron Beam Induced Current

Kirnstötter, S., Faccinelli, M. M., Laven, J., Schustereder, W., Schulze, H-J., Job, R. & Hadley, P., 2012, in : ECS Transactions. 49, S. 483-489

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Reaction dynamics of diffusion soldering with the eutectic Au-Sn alloy on copper and silver substrates

Etschmaier, H., Novak, J., Eder, H. & Hadley, P., Jan 2012, in : Intermetallics. 20, 1, S. 87-92 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Suppression of Interdiffusion in Copper/Tin Thin Films

Etschmaier, H., Torwesten, H., Eder, H. & Hadley, P., 2012, in : Journal of Materials Engineering and Performance. 21, 8, S. 1724-1727

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2011

Electron Beam-Induced Current (EBIC) in solution-processed solar cells

Reuter, P., Rath, T., Fischereder, A., Trimmel, G. & Hadley, P., 2011, in : Scanning. 33, 1, S. 1-6

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

In-situ XRD and FIB microscopy studies of the dynamics of intermetallic phase formation in thin layer Cu/Sn films for low-temperature isothermal diffusion soldering

Hadley, P., 2011, MRS Proceedings. ., S. mrs10-131-0

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Organic field-effect transistors: Tetrathiafulvalene derivatives as highly promising organic semiconductors

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Bromley, S. T., Veciana, J. & Rovira, C., 2011, Organic Semiconductors: Properties, Fabrication and Applications. Nova Science Publishers, Inc., S. 171-186 16 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/BerichtForschungBegutachtung

Thermodynamic properties of separable square-wave potentials

Hadley, P. & Kollmitzer, B., 2011, in : Physica / B. 406, S. 4373-4380

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2008

Organic field-effect transistors (OFETs) of highly oriented films of dithiophene-tetrathiafulvalene prepared by zone casting

Mas-Torrent, M., Masirek, S., Hadley, P., Crivillers, N., Oxtoby, N. S., Reuter, P., Veciana, J., Rovira, C. & Tracz, A., 2008, in : Organic electronics. 9, S. 143-148

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2007

Organic field-effect transistors: Tetrathiafulvalene derivatives as highly promising organic semiconductors

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Bromley, S. T., Vecianaa, J. & Roviraa, C., 2007, New Developments in Nanotechnology Research. Nova Science Publishers, Inc., S. 79-93 15 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/BerichtForschungBegutachtung

2006

Field emission as transducer for sub-micron and nano resonators

Yang, C. K., French, P. J., Van Der Drift, E., Kim, J. R. & Hadley, P., 2006, Proceedings of IEEE Sensors. S. 1207-1210 4 S. 4178839

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Large photoresponsivity in high-mobility single-crystal organic field-effect phototransistors

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Crivillers, N., Veciana, J. & Rovira, C., 16 Jan 2006, in : ChemPhysChem. 7, 1, S. 86-88 3 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Low-temperature solid-phase epitaxy of defect-free aluminum p +-doped silicon for nanoscale device applications

Civale, Y., Nanver, L. K., Hadley, P., Goudena, E. J. G., Van Zeijl, H. W. & Schellevis, H., 2006, Materials Research Society Symposium Proceedings. Band 940. S. 1-6 6 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Organic Molecular WIres

Hadley, P., 2006, International Conference on Solid State Devices and Materials. ., S. 826-827

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Open Access
Datei

Sub-500 °C solid-phase epitaxy of ultra-abrupt p+-silicon elevated contacts and diodes

Civale, Y., Nanver, L. K., Hadley, P., Goudena, E. J. G. & Schellevis, H., Mai 2006, in : IEEE Electron Device Letters. 27, 5, S. 341-343 3 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2005

Electcochemical growth of organic conducting microcrystals of tetrathiafulvalene bromide

Mas-Torrent, M. & Hadley, P., Aug 2005, in : Small. 1, 8-9, S. 806-808 3 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Single-crystal organic field-effect transistors based on dibenzo-tetrathiafulvalene

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Bromley, S. T., Crivillers, N., Veciana, J. & Rovira, C., Jan 2005, in : Applied Physics Letters. 86, 1, 012110.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2004

Bottom-up nanoelectronics

Hadley, P., 2004, Conference Proceedings - 7th European Conference on Wireless Technology, ECWT2004. S. 309-313 5 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Correlation between crystal structure and mobility in organic field-effect transistors based on single crystals of tetrathiafulvalene derivatives

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Bromley, S. T., Ribas, X., Tarrés, J., Mas, M., Molins, E., Veciana, J. & Rovira, C., 14 Jul 2004, in : Journal of the American Chemical Society. 126, 27, S. 8546-8553 8 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Field effect transistors based on poly(3-hexylthiophene) at different length scales

Mas-Torrent, M., Den Boer, D., Durkut, M., Hadley, P. & Schenning, A. P. H. J., Apr 2004, in : Nanotechnology. 15, 4

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

High Mobility of Dithiophene-Tetrathiafulvalene Single-Crystal Organic Field Effect Transistors

Mas-Torrent, M., Durkut, M., Hadley, P., Ribas, X. & Rovira, C., 4 Feb 2004, in : Journal of the American Chemical Society. 126, 4, S. 984-985 2 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Importance of intermolecular interactions in assessing hopping mobilities in organic field effect transistors: Pentacene versus dithiophene-tetrathiafulvalene

Bromley, S. T., Mas-Torrent, M., Hadley, P. & Rovira, C., 2 Jun 2004, in : Journal of the American Chemical Society. 126, 21, S. 6544-6545 2 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Temperature dependence of the electrical properties of single-crystals of dithiophene-tetrathiafulvalene (DT-TTF)

Mas-Torrent, M., Hadley, P., Ribas, X. & Rovira, C., 3 Nov 2004, in : Synthetic metals. 146, 3, S. 265-268 4 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Towards supramolecular electronics

Schenning, A. P. H. J., Jonkheijm, P., Hoeben, F. J. M., Van Herrikhuyzen, J., Meskers, S. C. J., Meijer, E. W., Herz, L. M., Daniel, C., Silva, C., Phillips, R. T., Friend, R. H., Beljonne, D., Miura, A., De Feyter, S., Zdanowska, M., Uji-I, H., De Schryver, F. C., Chen, Z., Würthner, F., Mas-Torrent, M. &3 mehrDen Boer, D., Durkut, M. & Hadley, P., 7 Dez 2004, in : Synthetic metals. 147, 1-3, S. 43-48 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2003

Absence of strong gate effects in electrical measurements on phenylene-based conjugated molecules

Lee, J. O., Lientschnig, G., Wiertz, F., Struijk, M., Janssen, R. A. J., Egberink, R., Reinhoudt, D. N., Hadley, P. & Dekker, C., 1 Feb 2003, in : Nano Letters. 3, 2, S. 113-117 5 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Electrical Transport Study of Phenylene-Based π-Conjugated Molecules in a Three-Terminal Geometry

Lee, J. O., Lientschnig, G., Wiertz, F. G. H., Struijk, M., Janssen, R. A. J., Egberink, R., Reinhoudt, D. N., Grimsdale, A. C., Müllen, K., Hadley, P. & Dekker, C., Dez 2003, in : Annals of the New York Academy of Sciences. 1006, S. 122-132 11 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Logic circuits based on carbon nanotubes

Bachtold, A., Hadley, P., Nakanishi, T. & Dekker, C., Jan 2003, in : Physica / E. 16, 1, S. 42-46 5 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Quantum superposition of charge states on capacitively coupled superconducting islands

Heij, C. P., Dixon, D. C., Van der Wal, C. H., Hadley, P. & Mooij, J. E., Apr 2003, in : Physical Review / B. 67, 14, S. 1445121-1445125 5 S., 144512.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Simulating Hybrid Circuits of Single-Electron Transistors and Field-Effect Transistors

Lientschnig, G., Weymann, I. & Hadley, P., Okt 2003, in : Japanese journal of applied physics. 42, 10, S. 6467-6472 6 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung